エレクトロテスト・ジャパン 2027

從 2027年2月17日 開始,到 2027年2月19日 結束
(請在參加之前,再次確認以下組織者所提供的日期和地點是否正確。)

ElectroTest Japan 2027是一個在東京Big Sight舉行的國際展覽會,主要展示微電子產業相關的測試、檢查、控制和測量設備。此展會展示了各種最新的測量、檢查和分析設備,適用於IC製造、組裝、PCB生產以及表面貼附技術等各個階段。這些設備包括機器視覺系統、X光檢查設備、紅外線檢查設備、測試儀器、掃描器、光學儀器、實驗室分析工具、感測器、溫度計、顯微鏡以及自動化控制系統等。此外,還有專門區域展示數位影像處理設備、光譜分析設備、顯示器、打印機以及相關軟體。此展覽會是NEPCON JAPAN綜合項目的一部分,與其他六個相關展覽會一起舉辦(包括Internepcon Japan、IC Packaging Technology Expo、Ele Expo、PWB Expo、Fine Process Technology Expo、LED Laser Diode Technology Expo)。此展覽會同時也與汽車、可穿戴裝置、機器人及智能工廠相關的展覽會同步舉行。此活動的主要目標是為那些需要最優秀解決方案以確保品質和生產效率的電氣工程及電子工程專家提供服務。


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會場地圖及周圍的飯店

古田 – 日本東京,東京ビッグサイト