ELECTROTEST JAPAN – 2027年電子製造及研發領域的測試服務
從 2027年2月17日 開始，到 2027年2月19日 結束
At 東京 – 日本東京的東京ビッグサイト ( 查看地圖)
(請在參加之前，再次確認以下組織者所提供的日期和地點是否正確。)
ELECTROTEST JAPANは、アジア地区で電子製造および研究開発分野における検査、測定、分析に関する専門的な展示会です。この展示会はRX Japanが主催しており、NEPCON JAPANの関連展示会の一つとして開催されます。
次回の展示会は、NEPCON JAPANの2月開催イベントの一部です。開催日は2027年2月17日から19日まで、時間は10:00から17:00（日本標準時）です。場所は日本の東京にある東京ビッグサイトです。公式の来場登録はNEPCON JAPAN東京のウェブサイトで行えます。
該展覽會主要介紹了各種測試設備、檢查工具（包括三維檢查設備）、PCB檢查技術、X光系統以及相關的研發與製造測試技術。ELECTROTEST JAPAN被列在主辦單位所舉辦的2月東京展覽會的參展項目中，但並未被列入9月的東京展覽會的參展項目中。
- 日期：2027年2月17日（星期三）至2月19日（星期五）
- 開放時間：10:00–17:00（日本標準時）
- 場所：東京ビッグサイト（東京都江東区荒井3-11-1）
- 主辦方：RX Japan
請註冊以參加活動或擁有攤位。
請至 ELECTROTEST JAPAN 的官方網站進行註冊。ELECTROTEST JAPAN 是專門從事電子製造及研發相關領域的測試服務機構。