國際測試會議 - 印度 2026年

International Test Conference - India Bengaluru 2026
从 2026 年 7 月 19 日 到 2026 年 7 月 21 日
(請在參加前再次檢查以下 Organizer 的日期和地點。)

第十屆IEEE國際測試會議印度2026(ITC測試週)將於2026年7月19日至21日在班加羅爾的辛那德布·布魯舉行。它作為電子測試專業人員的首屈一指的論壇,涵蓋整個測試 生命周期:設計驗證、設計為測試(DfT)、設計為製造(DfM)、半導體調試、製造測試、系統級測試、診斷、可靠性和故障分析以及反饋到過程和設計改進。該計劃包括學術研究軌道、行業專注的教程、論文展示和一個展覽,工具供應商、設備供應商和服務提供商展示最新的測試和產量提升解決方案。關鍵截止日期包括論文征集(3月3日)和教程征集(3月31日).


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班加羅爾 - 辛那德布·布魯班加羅爾外環路,卡納塔克邦,印度